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低速陽電子ビームライン 陽電子寿命測定装置 二次元角相関測定装置

 消滅γ線の角度分布を測定することにより,物質中の電子の運動量分布を求めることができます.



▲ Fig.1 装置全体



金属・半導体・金属酸化物・絶縁体・高分子などのバルク試料(厚さ0.2mm以上).
バルク試料を測定するには陽電子線源を2枚の試料で挟みこむ必要があるので,試料は2枚必要.




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